Home

trabuc perdea ură microscopul electronic cu baleaj mandatată platformă Strigă

04_Microscopia electronică_site.pptx
04_Microscopia electronică_site.pptx

Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N -  Micronanotech
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech

STUDIU DE MICROSCOPIE A SUPRAFEŢELOR BRACKET-URILOR METALICE ŞI CERAMICE
STUDIU DE MICROSCOPIE A SUPRAFEŢELOR BRACKET-URILOR METALICE ŞI CERAMICE

Metode şi tehnici de cercetare în domeniu. Planificarea cercetării.  Training pe aparatură/Software performante
Metode şi tehnici de cercetare în domeniu. Planificarea cercetării. Training pe aparatură/Software performante

STUDIU DE MICROSCOPIE A SUPRAFEŢELOR BRACKET-URILOR METALICE ŞI CERAMICE
STUDIU DE MICROSCOPIE A SUPRAFEŢELOR BRACKET-URILOR METALICE ŞI CERAMICE

Laboratorul de microscopie - FoodSafety
Laboratorul de microscopie - FoodSafety

MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI-  PHILIPS Olanda – ECOMET
MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET

NIMP| Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj  (SEM) - NIMP
NIMP| Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj (SEM) - NIMP

Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N -  Micronanotech
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech

I~ NOTE
I~ NOTE

Microscopia electronica
Microscopia electronica

Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N -  Micronanotech
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech

MICROSCOPIA ELECTRONICA CU SCANARE
MICROSCOPIA ELECTRONICA CU SCANARE

NIMP| Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj  (SEM) - NIMP
NIMP| Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj (SEM) - NIMP

MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI-  PHILIPS Olanda – ECOMET
MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET

Caracterizare - Microscopie electronica de baleiaj [SEM] (conventionala si  cu emisie in camp) si Spectroscopie de raze X cu disp
Caracterizare - Microscopie electronica de baleiaj [SEM] (conventionala si cu emisie in camp) si Spectroscopie de raze X cu disp

Microscop electronic de baleiaj APREO SEM
Microscop electronic de baleiaj APREO SEM

Microscop electronic de baleiaj APREO SEM
Microscop electronic de baleiaj APREO SEM

MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI-  PHILIPS Olanda – ECOMET
MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET

Infrastructura de cercetare – Școala Doctorală Știința și Ingineria  Materialelor
Infrastructura de cercetare – Școala Doctorală Știința și Ingineria Materialelor

DEPARTAMENT POLIMERI - ICECHIM
DEPARTAMENT POLIMERI - ICECHIM

DEZVOLTARE BAZĂ MATERIALĂ DE CERCETARE PENTRU PROCESARE ŞI CARACTERIZARE  MATERIALE AVANSATE NANOSTRUCTURATE | National Institute of Research and  Development for Technical Physics
DEZVOLTARE BAZĂ MATERIALĂ DE CERCETARE PENTRU PROCESARE ŞI CARACTERIZARE MATERIALE AVANSATE NANOSTRUCTURATE | National Institute of Research and Development for Technical Physics

Microscoape electronice de baleiaj SEM
Microscoape electronice de baleiaj SEM

Microscop Electronic | PDF
Microscop Electronic | PDF

TEZĂ DE DOCTORAT
TEZĂ DE DOCTORAT

Echipamente
Echipamente

nanoscan
nanoscan